日置C測試儀3504-40高精度lcr測試儀日置代理商

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

高速測量2ms

能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷

對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能

3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試

3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試

查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

基本參數(shù)

測量參數(shù)測量范圍基本精度測量頻率測量信號電平輸出電阻顯示測量時(shí)間功能電源體積及重量附件

Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）

C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000

（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016

※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數(shù)

120Hz, 1kHz

恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V

測量范圍:

CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)

CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)

CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí)）

發(fā)光二級管 （6位表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定）

典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）

※測量時(shí)間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同

BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 大110VA

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1，使用說明書×1

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