TESA MICRO HITE 手動二維測高儀 快速完成復雜任務的選擇 可以用來進行平面、平行面和圓柱面幾何體的內(nèi)尺寸、外尺寸、高度、深度或距離尺寸測量。 同時可以進行一維或二維的測量。
自動搜索孔或軸的頂點,在動態(tài)探測中記錄大、小值以及大小值之間的差值計算。
TESA IG-13 數(shù)字式測頭可以測量垂直度、直線度、平行度等偏差和跳動誤碼率差,并以ISO 1101標準輸出數(shù)據(jù)。
-在電子測高儀上20年的制造經(jīng)驗造就了高品質(zhì)的設計,代表了當今技術(shù)水平的發(fā)展。
-生產(chǎn)現(xiàn)場檢測的理想工具,在工作區(qū)沒有任何電纜。
-快速簡單可靠測量,尤其是工件孔類。
-365、615、920mm三種量程供您選擇。
-顯示的分辨率為0.0005,0.001,0.01和0.1mm或轉(zhuǎn)換為相等的英制單位。
-通過計算機的輔助精度(CAA)自動修正偏移誤差可以極準確測量長度、直線度和垂直度
-具有鋼一樣的膨脹系數(shù)(11.5*10-6K-1)
-控制面板“ID”和“power panel”通過交互式的數(shù)據(jù)處理和輸出,可以引導操作者的操作
-無須人工計算
-可以通過編寫程序循環(huán)測量99個工件,每個測量循環(huán)包含相關尺寸極限值的64個指標
-內(nèi)置打印機用于數(shù)據(jù)輸出或利用外部打印機以A4紙打印
-RS 232數(shù)據(jù)輸出
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TESA MICRO HITE 手動二維測高儀 快速完成復雜任務的選擇 可以用來進行平面、平行面和圓柱面幾何體的內(nèi)尺寸、外尺寸、高度、深度或距離尺寸測量。 同時可以進行一維或二維的測量。
自動搜索孔或軸的頂點,在動態(tài)探測中記錄大、小值以及大小值之間的差值計算。
TESA IG-13 數(shù)字式測頭可以測量垂直度、直線度、平行度等偏差和跳動誤碼率差,并以ISO 1101標準輸出數(shù)據(jù)。
-在電子測高儀上20年的制造經(jīng)驗造就了高品質(zhì)的設計,代表了當今技術(shù)水平的發(fā)展。
-生產(chǎn)現(xiàn)場檢測的理想工具,在工作區(qū)沒有任何電纜。
-快速簡單可靠測量,尤其是工件孔類。
-365、615、920mm三種量程供您選擇。
-顯示的分辨率為0.0005,0.001,0.01和0.1mm或轉(zhuǎn)換為相等的英制單位。
-通過計算機的輔助精度(CAA)自動修正偏移誤差可以極準確測量長度、直線度和垂直度
-具有鋼一樣的膨脹系數(shù)(11.5*10-6K-1)
-控制面板“ID”和“power panel”通過交互式的數(shù)據(jù)處理和輸出,可以引導操作者的操作
-無須人工計算
-可以通過編寫程序循環(huán)測量99個工件,每個測量循環(huán)包含相關尺寸極限值的64個指標
-內(nèi)置打印機用于數(shù)據(jù)輸出或利用外部打印機以A4紙打印
-RS 232數(shù)據(jù)輸出