價格
¥453,453.00
型號
SXT-50
品牌
津梁玉衡
所在地
暫無
更新時間
2024-03-19 09:03:17
瀏覽次數(shù)
次
其他推薦產(chǎn)品
首頁| 關(guān)于我們| 聯(lián)系我們| 友情鏈接| 廣告服務(wù)| 會員服務(wù)| 付款方式| 意見反饋| 法律聲明| 服務(wù)條款
隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗,取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。對于夏比V型缺口沖擊試驗,由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm),故在整個試驗過程中,試樣的V型缺口是否合格成了關(guān)鍵問題,如果試樣缺口的質(zhì)量不合格,那么其試驗的結(jié)果是不可信的,是R0.25mm缺口的微小變化(其公差帶只有0.025mm),都會引起試驗結(jié)果的陡跳,是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品或報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證出的夏比V型缺口合格,其缺口的質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。目前用光學(xué)投影放大檢查是切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。
本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投在投影屏幕上。根據(jù)實際需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上,再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次發(fā)射成正像,在投影屏上看到的圖形與實際試樣放置的方向是一致的。沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大50倍,投射到高清晰度的液晶投影屏上,與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口是否合格。
性能特點:
符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T229-1994、GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》;
檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口質(zhì)量的光學(xué)儀器
放大50倍,檢驗結(jié)果準(zhǔn)確,測量精度高;
標(biāo)準(zhǔn)樣板圖清晰顯示、比對直觀方便。
工作臺三維調(diào)節(jié),定位準(zhǔn)確。
現(xiàn)代造型設(shè)計,結(jié)構(gòu)緊湊,操作方便。
強力排熱系統(tǒng),散熱效果好,性能更穩(wěn)定。
采用高亮度,長壽命的鹵鎢燈照明光源
技術(shù)參數(shù):
放大倍數(shù):50倍
投影屏直徑:200mm
工作臺尺寸:
方工作臺:110×125mm
圓工作臺:90mm
工作臺玻璃直徑:70 mm
工作臺行程:縱向±10mm, 橫向±10mm, 升降:12mm
工作臺轉(zhuǎn)動范圍:0~360°
放大倍率:
儀器:50倍
物鏡:2.5倍
投影物鏡:20倍
光源(鹵鎢燈):12V 100W
電源:220V 50Hz 150W
外形尺寸:515×224×603mm(長×寬×高)
重量:18kg
準(zhǔn)樣板圖類型:2mmV U型缺口
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T 229-2007 EN 10045.1-1990 ASTM E23-2002a標(biāo)準(zhǔn)樣板圖的缺口尺寸與偏差應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定