五指山顯微鏡校正公司-2023已更新:

在選擇探頭校正方法時，應(yīng)當(dāng)避免多種錯誤理念和陷阱，這些理念和陷阱影響所有的校正方法，包括直流校正、交流校正以及用戶交流校正。*需要注意的一個錯誤理念是認(rèn)為探頭校正可以一定程度地改進(jìn)低質(zhì)量探頭，這是一個誤區(qū)，低質(zhì)量探頭通常具有極不平坦的頻率響應(yīng)，有較大的波動，波動的波峰和波谷對應(yīng)的頻點若明顯低于探頭帶寬，在這些頻點上校正探頭頻響副作用會非常明顯，就是本底噪聲大幅增加，很多時候是不可取的。
另外，設(shè)計欠佳的探頭一般負(fù)載效應(yīng)很明顯，探頭校正無法消除該探頭與被測器件連接時產(chǎn)生的負(fù)載效應(yīng)，校正只能改變已經(jīng)顯示在示波器屏幕上的信號，若信號進(jìn)入示波器之前已經(jīng)被探頭負(fù)載效應(yīng)改變太多，校正也無能為力。為了獲得對被測器件影響*小的測量結(jié)果，探頭用戶應(yīng)近可能選擇高輸入阻抗的探頭，同時，用戶也應(yīng)了解用軟件的方法提升帶寬通常會帶來噪聲增加的后果。

憑借特定的探頭響應(yīng)定義及其校正方案，示波器能夠在屏幕上顯示上升時間短于實際被測信號的波形。例如，如果采用 Vout/Vsource 探頭響應(yīng)定義，Vin 可能會出現(xiàn)明顯的峰值以補償探頭負(fù)載效應(yīng)，但仍然會產(chǎn)生平坦響應(yīng)。在這種情況下，當(dāng)信號通過探頭時高頻內(nèi)容會會得到放大（相對于低頻內(nèi)容），并且探頭響應(yīng)會得到提升以補償因探頭負(fù)載導(dǎo)致的頻率下滑。這會“凸顯”快速邊沿的高頻內(nèi)容，使其獲得似乎高于被測信號（Vin）的速度。一些用戶希望看到被測器件具有快速的邊沿，但他們必須認(rèn)識到探測系統(tǒng)所顯示的可能并不是實際狀況。通由用戶可操作的交流校準(zhǔn)（例如 Agilent PrecisionProbe），示波器用戶可以輕松地選擇探頭響應(yīng)的定義方法，避免不必要的理論爭吵；
　　用戶可操作的交流校正方法是使用夾具對用戶的探頭進(jìn)行校準(zhǔn)和校正，因此校正時使用的探頭設(shè)置和附件必須盡可能與實際設(shè)置一致，否則校正可能是無意義的，也就是說，校正和實際測試時，所使用的探頭、前端或附件長度與空間方位間隔應(yīng)該完全相同。
　　探頭校正方法十分復(fù)雜，并且其復(fù)雜程度將隨著探頭和示波器性能的增強而加深。校正方法有三個進(jìn)階，入門進(jìn)階是用戶定期對探頭進(jìn)行直流校準(zhǔn)，第二進(jìn)階是使用由工廠完成的交流校正方法來改進(jìn)測量精度。第三進(jìn)階，也就是對于探頭要求很高的用戶，是使用用戶可操作的交流校準(zhǔn)（即 安捷倫的 Precision Probe套件），以改進(jìn)測量并降低探測工作的復(fù)雜程度。了解不同的探頭校正方法及其細(xì)微差別可以確保探頭用戶獲得*的測量保真度。