精密LCR測(cè)試儀特惠  精密LCR測(cè)試儀4285A 詳情說(shuō)明

產(chǎn)品名稱：LCR測(cè)試儀/電橋
產(chǎn)品：Agilent/HP
產(chǎn)品型號(hào)：4285A
Agilent4285A精密LCR測(cè)試儀HP4285A

4285A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它們通過(guò)提供、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))。對(duì)射頻元件的測(cè)試，4285A給出更高的測(cè)試頻率范圍，從75KHz到30MHz。無(wú)論在研究開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A和4285A能滿足全部LCR測(cè)量要求。

4285A精密LCR測(cè)試儀詳細(xì)說(shuō)明: 
·4285A精密LCR測(cè)試儀.75kHz-30MHz以100Hz步進(jìn)
·4285A精密LCR測(cè)試儀.0.1%的基本精度
·4285A精密LCR測(cè)試儀.高速測(cè)量：30ms/一次測(cè)量
·4285A精密LCR測(cè)試儀.恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
·4285A精密LCR測(cè)試儀.用Agilent42841A時(shí)給出10Adc
·4285A精密LCR測(cè)試儀.能用Agilent42851A進(jìn)行的Q測(cè)量
·4285A精密LCR測(cè)試儀.具有列表掃描測(cè)量功能
規(guī)格指標(biāo)：
電源要求：100/120/220V±10% ,240V 5%/-10%, 47～66Hz
功耗：200VAmax

型號(hào)：
工作溫度和濕度：0℃～55℃，在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95%
尺寸：426mm（寬）×177mm（高）×498mm（長(zhǎng)）（16.77英寸×6.97英寸×19.61英寸）
重量：約16kg(35.2磅)

技術(shù)指標(biāo)：
（全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料）
被測(cè)參數(shù)：|Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp;L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式：串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換：自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā)：內(nèi)部、外部、手動(dòng)和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間：0～60.000s,以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端：四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度：
4284A：標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0，1，2，和4m
4285A：0，1和2m
積分時(shí)間：短、中等和長(zhǎng)
取平均：1～256，可程控

測(cè)試信號(hào)：
4284A：20Hz～1MHz±0.01%,8610個(gè)可選擇頻率
4285A：75KHz～30MHz±0.01%,以100Hz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn):分別在開(kāi)路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選定的電壓或電流編程。
恒定：維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無(wú)關(guān)。

示器：
LCD點(diǎn)陣顯示：顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示。

修正功能：
開(kāi)路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差。
接負(fù)載：利用已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量精度。
列表掃描功能：
多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)編程?？蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試。當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試。

比較器：
10倉(cāng)室(ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于二次測(cè)量參數(shù)。
倉(cāng)室計(jì)數(shù)：0～999999

列表掃描比較器：
高/符合/低判定輸出用于列表掃描中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)。
其它功能存儲(chǔ)/加載：10個(gè)儀器設(shè)置由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)存儲(chǔ)卡存儲(chǔ)/加載。

GPIB:所有儀器控制設(shè)置、被測(cè)值、比較極限、列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果。
存儲(chǔ)器：
存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)、ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式。