供應(yīng)Agilent 4284A 電橋  

 

 

聯(lián)系人：何經(jīng)理

                曹  軍

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24小時(shí)免費(fèi)熱線:

 

 

: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP

 

·20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率

·0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率

·恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平

·20Vrms電平選件（選件001）

·用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc

·具有列表掃描測(cè)量功能

Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國際電工委員會(huì)或美國標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。

技術(shù)指標(biāo)

 

 

被測(cè)參數(shù) |Z|-θ|Y|-θR-XG-BC-DQESRGRpL-DQESRGRp;偏差和%偏差

 

測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)

 

量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)

 

觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）

 

延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)

 

測(cè)量終端 四端對(duì)

 

測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m

 

積分時(shí)間： 短、中等和長(zhǎng)

 

取平均： 1-256可程控

 

測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率

 

測(cè)試信號(hào)方式：

  

標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程

 

恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無關(guān)

 

測(cè)試信號(hào)：

電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定

4284A 5mV~2V50μA-20mA 10mV-1V100μA-10mA

選件001 5mV~2V50μA-200mA 10mV-10V100μA-100mA

 

直流偏置： 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V

 

選件：0V-±40V

測(cè)量顯示范圍

 

參數(shù) 范圍

|Z|RX 0.01mΩ-99.9999MΩ

|Y|GB 0.01nS-99.9999S

C HP

4284A:0.01fF-9.9999F

L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH

D 0.000001-9.99999

Q 0.01-99999.9

θ -0°

Δ% -999.999%~999.999%

 

基本測(cè)量精度

 

|Z|CL D

0.05% 0.0005

補(bǔ)充特性：

  

測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間

短 40ms

中等 190ms

長(zhǎng) 830ms

選件001直流偏流輸出 100mA

max

顯示器：

LCD點(diǎn)陣顯示： 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示

修正功能 開路/短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差

接負(fù)載： 利用已校器件作為參考來改善測(cè)量精度

列表掃描功能 多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程。可進(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試

比較器

  10倉室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入/輸出用于一次測(cè)量參數(shù)

倉室計(jì)數(shù)： 0-999999

 

列表掃描比較器： 高/符合/低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)

 

其它功能：

存儲(chǔ)/加載：

10個(gè)儀器設(shè)置可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器存儲(chǔ)/加載。10個(gè)附加設(shè)置還能由一個(gè)儲(chǔ)存卡存儲(chǔ)/加載

HP-IB 所有儀器控制設(shè)置，被測(cè)值，比較極限，列表掃描表和自測(cè)試結(jié)果

存儲(chǔ)器： 存儲(chǔ)緩存器能存儲(chǔ)多128個(gè)測(cè)量結(jié)果，并經(jīng)GPIB輸出數(shù)據(jù)，ASCII和64位二進(jìn)制數(shù)據(jù)格式

一般技術(shù)指標(biāo)

 

 

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