本系列程序高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類(lèi)似

于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在*短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。熱

震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID系統(tǒng)，各

類(lèi)產(chǎn)品才能獲得完全之信賴(lài)。熱震的效果包括成品裂開(kāi)或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，

PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使您操作簡(jiǎn)易。
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)

合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣

因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)

不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、

GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法：GJB150.5-86  溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車(chē) 配件、金屬

、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁

及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)

變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或

參考。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。
2.GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。
3.GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。
4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。      
6.國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86；
7.國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86；
8.國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86； 


技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍：-40℃～150℃
   高溫箱： +60℃～150℃    
   低溫箱： 0℃～-40℃；
2、溫度波動(dòng)度：±2℃;
3、溫度誤差：±2℃;
4、升溫速率：從常溫～150℃≤50min；  
5、降溫速率：從常溫～-60℃≤60min;  
6、制冷下限溫度：≤-40℃;  
7、沖擊溫度：+150～-40℃;
8、工作室尺寸： 500×400×400mm;  （寬×高×深）
9、外形尺寸： 約1500×1900×1500mm;  （寬×高×深）
10、 電源：380V±38V   50Hz±1Hz
11、功率：約16.5Kw
12、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min;
13、樣品架承重： 5Kg以?xún)?nèi)。