品型號:日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀 簡單介紹 日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀 說明:
LCR測試儀 3532-50元器件測量,LCR測試儀 3532-50搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀
測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位度自由調整,可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。
操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來
基本參數(shù)
測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位度自由調整 可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來 LCR測試儀 3532-50基本參數(shù)
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品型號:日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀
簡單介紹
日本日置HIOKI3532-50 LCR測試儀 說明:
LCR測試儀 3532-50元器件測量,LCR測試儀 3532-50搭配寬幅測試頻率的阻抗測試儀
測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位度自由調整,可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。
操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來
基本參數(shù)
測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位度自由調整
可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來
LCR測試儀 3532-50基本參數(shù)
檢測:電壓,AC
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S