儀器名稱：
場發(fā)射高分辨率掃描電鏡(FESEM）

SEM掃描電鏡型號：
SEM（Tescan mira3, Zeiss sigma500 Zeiss Merlin Compact） EDS（OxfordX-MAX）

SEM掃描電鏡檢測項目：
表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）， EDS能譜（點掃、線掃、面掃），elements Mapping，EBSD

SEM掃描電鏡應用范圍：
固體樣品的微觀形貌、結構，樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布，廣泛應用于納米技術、材料、物理、化學、環(huán)境科學等領域。

塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。

適合導電性不佳的樣品形貌觀察。

SEM掃描電鏡測試流程
1、客戶提出測試要求（在線預約）
2、細節(jié)溝通（聯(lián)系在線QQ）
3、下載填寫測試委托單
4、測試委托單和樣品郵寄
5、聯(lián)系客服付款
6、安心等待
7、接受數(shù)據(jù)發(fā)票
8、后期服務
以上是對于掃描電鏡測試的相關介紹，如有其它檢測需求可以咨詢實驗室工程師，為您一對一服務。