五指山顯微鏡校正公司-2023已更新:

在選擇探頭校正方法時(shí)，應(yīng)當(dāng)避免多種錯(cuò)誤理念和陷阱，這些理念和陷阱影響所有的校正方法，包括直流校正、交流校正以及用戶交流校正。*需要注意的一個(gè)錯(cuò)誤理念是認(rèn)為探頭校正可以一定程度地改進(jìn)低質(zhì)量探頭，這是一個(gè)誤區(qū)，低質(zhì)量探頭通常具有極不平坦的頻率響應(yīng)，有較大的波動(dòng)，波動(dòng)的波峰和波谷對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)若明顯低于探頭帶寬，在這些頻點(diǎn)上校正探頭頻響副作用會(huì)非常明顯，就是本底噪聲大幅增加，很多時(shí)候是不可取的。
另外，設(shè)計(jì)欠佳的探頭一般負(fù)載效應(yīng)很明顯，探頭校正無法消除該探頭與被測(cè)器件連接時(shí)產(chǎn)生的負(fù)載效應(yīng)，校正只能改變已經(jīng)顯示在示波器屏幕上的信號(hào)，若信號(hào)進(jìn)入示波器之前已經(jīng)被探頭負(fù)載效應(yīng)改變太多，校正也無能為力。為了獲得對(duì)被測(cè)器件影響*小的測(cè)量結(jié)果，探頭用戶應(yīng)近可能選擇高輸入阻抗的探頭，同時(shí)，用戶也應(yīng)了解用軟件的方法提升帶寬通常會(huì)帶來噪聲增加的后果。

憑借特定的探頭響應(yīng)定義及其校正方案，示波器能夠在屏幕上顯示上升時(shí)間短于實(shí)際被測(cè)信號(hào)的波形。例如，如果采用 Vout/Vsource 探頭響應(yīng)定義，Vin 可能會(huì)出現(xiàn)明顯的峰值以補(bǔ)償探頭負(fù)載效應(yīng)，但仍然會(huì)產(chǎn)生平坦響應(yīng)。在這種情況下，當(dāng)信號(hào)通過探頭時(shí)高頻內(nèi)容會(huì)會(huì)得到放大（相對(duì)于低頻內(nèi)容），并且探頭響應(yīng)會(huì)得到提升以補(bǔ)償因探頭負(fù)載導(dǎo)致的頻率下滑。這會(huì)“凸顯”快速邊沿的高頻內(nèi)容，使其獲得似乎高于被測(cè)信號(hào)（Vin）的速度。一些用戶希望看到被測(cè)器件具有快速的邊沿，但他們必須認(rèn)識(shí)到探測(cè)系統(tǒng)所顯示的可能并不是實(shí)際狀況。通由用戶可操作的交流校準(zhǔn)（例如 Agilent PrecisionProbe），示波器用戶可以輕松地選擇探頭響應(yīng)的定義方法，避免不必要的理論爭(zhēng)吵；
　　用戶可操作的交流校正方法是使用夾具對(duì)用戶的探頭進(jìn)行校準(zhǔn)和校正，因此校正時(shí)使用的探頭設(shè)置和附件必須盡可能與實(shí)際設(shè)置一致，否則校正可能是無意義的，也就是說，校正和實(shí)際測(cè)試時(shí)，所使用的探頭、前端或附件長(zhǎng)度與空間方位間隔應(yīng)該完全相同。
　　探頭校正方法十分復(fù)雜，并且其復(fù)雜程度將隨著探頭和示波器性能的增強(qiáng)而加深。校正方法有三個(gè)進(jìn)階，入門進(jìn)階是用戶定期對(duì)探頭進(jìn)行直流校準(zhǔn)，第二進(jìn)階是使用由工廠完成的交流校正方法來改進(jìn)測(cè)量精度。第三進(jìn)階，也就是對(duì)于探頭要求很高的用戶，是使用用戶可操作的交流校準(zhǔn)（即 安捷倫的 Precision Probe套件），以改進(jìn)測(cè)量并降低探測(cè)工作的復(fù)雜程度。了解不同的探頭校正方法及其細(xì)微差別可以確保探頭用戶獲得*的測(cè)量保真度。