進(jìn)口x射線鍍層測厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

1）、硬件參數(shù)：

1. X射線管：高穩(wěn)定性X射線管，使用壽命（工作時(shí)間>20,000小時(shí)）

微焦點(diǎn)x射線管

鈹窗口， 光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供佳性能。

2. 探測器：SDD探測器

能量分辨率：125±5eV

3. 濾光片/可選

初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換

7個(gè)準(zhǔn)直器：0.1mm、 0.2mm、 0.4mm、0.5mm、1mm、4mm(兩個(gè)）（或者根據(jù)客戶具體檢測要求配置）

4. 平臺(tái)：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
激光定位、簡易荷載大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測量

5. 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線：

- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）

- 基點(diǎn)改正（基線本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動(dòng)顯示

7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數(shù)：40X

- 射線方向：上照式

- 軟件控制取得高真圖像

進(jìn)口x射線鍍層測厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

1. Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)法（FP）軟件，對(duì)樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析，可對(duì)鍍液進(jìn)行定量分析。

2. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行薄膜鍍層厚度測量

相對(duì)（比）模式  無焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

多鍍層厚度同時(shí)測量

單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

3. Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

電鍍厚鍍度測量儀、X-RAY

產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測，檢測層數(shù)范圍1-6層；檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm－99.99%。

2. 全自動(dòng)操作平臺(tái)，平臺(tái)移動(dòng)范圍可達(dá)160*160*100mm(X*Y*Z)；

3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能；

4. 檢測的樣品可以為固體、液體或粉末；

5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低；

6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性、半定量分析；

7. 操作簡單、無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速檢測（5-40秒依配置而定）；

8. 配置：SDD探測器、長壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源，儀器使用壽命長。

9. 高分辨率：125±5電子伏特（電子伏特越低分辨率越高，檢測越，這是能譜儀一個(gè)非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)）；

10. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件；

11. 軟件終身免費(fèi)升級(jí)；

12. 無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可使用；

13. 使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi)，提供全方位保姆式服務(wù)；

14. 環(huán)保RoHS分析功能，實(shí)現(xiàn)鍍層、環(huán)保和成份分析同時(shí)檢測；

15. 具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能，在客戶請(qǐng)求的情況下，可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù)；

RoHS規(guī)定的元素測試，待測物質(zhì)的SbAsSeBa元素，鹵素要求的ClBr元素，八大有害重金屬：鉛：Pb、汞：Hg、鎘：Cd、銻：Sb、硒：Se、砷：As、鋇：Ba、

進(jìn)口x射線鍍層測厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀