奧林巴斯 38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀

上海遂歐儀器有限公司

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38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀測(cè)量原理：

超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

主要特性

? 可與雙晶和單晶探頭兼容。 
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。 
? 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 
? 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 
? 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。 
? 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 

38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS主要應(yīng)用是：測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

主要特點(diǎn)：

 可與雙晶和單晶探頭兼容。 

 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。 

 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 

 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 

 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 

 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 

 使用頻率范圍2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量

 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 

 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 

 厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。 

 差分模式和縮減率模式。 

 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。 

 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。 

 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。 

 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。 

 可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。 

 可直接訪問所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。 

 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。 

 USB和RS-232通訊端口。 

 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。 

 可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。 

 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。 

 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。 

 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

優(yōu)點(diǎn)：

 袖珍型，僅重0.814公斤。 

 堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 

 爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試，可在防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。 

 防撞擊測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。 

 防振動(dòng)測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。 

 寬泛的工作溫度范圍。 

 帶有支架的橡膠保護(hù)套。 

 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有的清晰度。 

穿透涂層技術(shù)：

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。

這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償：

材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。 

氧化層/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）：

38DL PLUS使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

高穿透軟件選項(xiàng) ：

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

技術(shù)指標(biāo)： 

雙晶探頭測(cè)量模式  從激勵(lì)脈沖后的延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。  

穿透涂層測(cè)量模式 利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度  

穿透漆層回波到回波測(cè)量模式  在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。  

單晶探頭測(cè)量模式  模式1：激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 

模式2：延遲線回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 

模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 

氧化層模式：可選。 

多層模式：可選。  

38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS【原理 價(jià)格 使用方法】主要特性

? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
? 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
? 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。
? 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
? 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
? 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS穿透涂層技術(shù)

奧林巴斯olympus使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀溫度補(bǔ)償

材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。奧林巴斯38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS【原理 價(jià)格 使用方法】氧化皮/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）

使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化皮/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化皮的厚度。了解氧化皮/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項(xiàng)正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀自動(dòng)探頭識(shí)別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭（見下表）都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

美國(guó)泛美38DL PLUS超聲測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀測(cè)量; 奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀應(yīng)用介紹

38DL PLUS超聲測(cè)厚儀一般規(guī)格

38DLPLUS超聲測(cè)厚儀顯示

38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

? 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
? 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
? 校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
? 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
? 用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
? 高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500°C。
? 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償

材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測(cè)量（可選項(xiàng)）

38DL PLUS使用高級(jí)算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項(xiàng)正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。

用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

自動(dòng)探頭識(shí)別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

用戶使用單晶探頭可以測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測(cè)量。
? 對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。
? 高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
? 測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
? 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量。

高穿透軟件選項(xiàng)

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

多層軟件選項(xiàng)

這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測(cè)量值。

這個(gè)功能還可顯示所選各層的厚度。典型的應(yīng)用包括對(duì)塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測(cè)量。

38DL PLUS測(cè)厚儀的設(shè)計(jì)宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的惡劣條件下正常工作。無論檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測(cè)工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅(jiān)固結(jié)實(shí)的測(cè)厚儀器，那么，符合IP67評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

抵御惡劣環(huán)境的能力

? 袖珍型，僅重0.814公斤。
? 堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
? 爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試，可在防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
? 防撞擊測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
? 防振動(dòng)測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
? 寬泛的工作溫度范圍。
? 帶有支架的橡膠保護(hù)套。
? 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有的清晰度。

簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

戶外顯示設(shè)置，A掃描模式	室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式

? 可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。
? 可直接訪問所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
? USB和RS-232通訊端口。
? 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
? 可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
? 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
? 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
? 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

38DL PLUS測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
? 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
? 32位字符的文件名稱。
? 20位字符的ID# （TML#）編碼。
? 9個(gè)文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
? 每個(gè)ID# （TML）編碼可多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
? 注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
? 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。
? 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
? 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
? 機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲(chǔ)卡上寫入信息。
? 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

GageView?

? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量結(jié)。
? 編輯所存數(shù)據(jù)。
? 顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
? 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量結(jié)，或上傳厚度測(cè)量結(jié)至測(cè)厚儀。
? 將測(cè)量結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
? 升級(jí)操作軟件。
? 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
? B掃描回顧

標(biāo)準(zhǔn)配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測(cè)厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒
? 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? USB線纜
? 橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶手冊(cè)