京都玉崎株式會社
香港京都玉崎集團有限公司
深圳市京都玉崎電子有限公司
Shenzhen KyoTo TamaSaki Electronics Co.,Ltd
Adress:深圳市龍華新區(qū)龍華辦事處建設路百富匯工業(yè)區(qū)D棟206
Tel: QQ:2853OO7792
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Sales Engineer:周先生
Office:日本、香港、上海、蘇州、重慶、天津、北京
Otsuka大塚電子型號大全:
環(huán)形電位、粒徑、分子量測量系統ELSZ-2000ZS
單元電位測量系統ELSZ-2000Z
動態(tài)光散射亮度計DLS-8000series
濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000
纖維光學動態(tài)光散射亮度計FDLS-3000
紅寶石自動取樣的濃厚的粒徑分析儀FPAR-1000AS
動態(tài)光散射亮度計DLS-6500series
粒徑分子量測量系統ELSZ-2000S
光散亂光度計SLS-6500HL
高感度示差屈折計DRM-3000
可拉利電氣泳動系統Agilent 7100
多信道分光器MCPD-9800
多信道分光器MCPD-6800
高感度分光放射輝度計HS-1000
反射分光膜厚計FE-3000
膜厚顯示器FE-300
嵌入式膜厚顯示器FE-300
膜厚檢測應用多信道分光器MCPD series
顯微鏡光譜的厚度計OPTM series
光譜儀FE-5000/5000S
光譜干擾式晶片膜厚計SF-3
450mm晶片檢查裝置SF-450M
微晶片厚度檢查裝置SF-3000M
全光束測定系統HM/FM series
發(fā)光熒光測定用途多信道光譜儀MCPD series
分光配光測定裝置GP series
高速螺栓測量系統GP-7 series
發(fā)光熒光測定用途多信道光譜儀
壽命檢查裝置IESNA LM-80
量子效率測試系統QE-2000/2100
單線熒光薄膜檢查系統DF-1000
高靈敏度NIR量子效率測量系統QE-5000
單粒子熒光診斷系統NIMS
量子系統ELSZ-PT
高速LED光學特性監(jiān)控裝置LE series
濾色器光譜特性測量裝置LCF series
彩色測量用多信道分光器MCPD series
小區(qū)間隙檢查裝置RETS series
LCD評估裝置(面板模塊檢查)LCD series
黑色亮度的調光變化測定裝置GC-1
動畫特性測定裝置MPRT-2000
動畫解像度評估裝置MR-2000
透射率、接收、外光譜測量儀MCPD series
反射率測定用途多信道分光器MCPD series
膜厚度測定系統FE-3700/5700
快速反應檢測裝置RE-200
相位差膠卷光學材料檢查裝置RETS-100
顯微鏡光譜的厚度計OPTM series
代理
光源部:EYE巖崎、SEN日森、USHIO牛尾、REVOX萊寶克斯、CCS希希愛視、SERIC索萊克、TOPCON拓普康、NDK電色、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、FUNATECH船越龍、SAKAZUME坂詰電子、HIKARIYA光屋、KKIMAC、DNP大日本科研
計測部:NEWKON新光、SANKO三高、SAKAGUCHI坂口電熱、OKANO岡野、ONOSOKKI小野、TOKYO DENSHOKU東京電色、NDK日本電色、MITUTOYO三豐、PEACOCK孔雀、KYOWA共和
科儀部:EYELA東京理化、DRY-CABI德瑞卡比、T&D天特、ASKER高分子計器、KUSANO草野科學、IMV艾目微,AND愛安得、OBISHI大菱、TAKASAGO高砂、ASONE亞速旺、ELMEX安科生物、SAKURAI櫻井、NS日本精密科學、SONIC索尼克、SIBATA柴田、SANSYO三商、HEIDON新東
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