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電議
型號(hào)
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀數(shù)顯
品牌
上海精科
所在地
暫無
更新時(shí)間
2024-03-04 16:45:40
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京公網(wǎng)安備 11010802023672號(hào)
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
【SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）產(chǎn)品詳情】
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）
光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X