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工作經(jīng)驗(yàn):崗位職責(zé):
科委檢測(cè)中心招聘失效分析崗位:招聘失效分析工程師,招聘失效分析技術(shù)員,招聘失效分析銷售人員,軟件測(cè)試工程師
符合條件的北京解決戶口和事業(yè)編制
北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心(簡(jiǎn)稱:北軟檢測(cè))成立于2002 年7月,是經(jīng)北京市編辦批準(zhǔn),由北京市科學(xué)技術(shù)委員會(huì)和北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月,國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局批準(zhǔn)在北軟檢測(cè)基礎(chǔ)上籌建國(guó)家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(簡(jiǎn)稱:國(guó)軟檢測(cè)),2004年10月國(guó)軟檢測(cè)通過(guò)驗(yàn)收并正式獲得授權(quán),成為我國(guó)第一個(gè)國(guó)家級(jí)的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。
中心依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) ISO/IEC 17025:2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》和ISO 9001:2015《質(zhì)量管理體系要求》建立了嚴(yán)謹(jǐn)?shù)馁|(zhì)量體系,擁有一流的軟件測(cè)試平臺(tái),2600平方米的測(cè)試場(chǎng)地,1000多臺(tái)套的測(cè)試設(shè)備和上百人的專業(yè)測(cè)試工程師隊(duì)伍。目前具有資質(zhì)認(rèn)定計(jì)量認(rèn)證(CMA)、資質(zhì)認(rèn)定授權(quán)證書(shū)(CAL)、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)(CNAS)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)認(rèn)可證書(shū)(CNAS)、信息安全風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估服務(wù)資質(zhì)認(rèn)證證書(shū)(CCRC),信息安全等級(jí)保護(hù)測(cè)評(píng)機(jī)構(gòu)(DJCP)、ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證、ISO/IEC 27001:2013信息安全管理體系認(rèn)證等各種資質(zhì)。
芯片檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室于2015年底實(shí)施運(yùn)營(yíng),能夠依據(jù)國(guó)際、國(guó)內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施檢測(cè)工作,開(kāi)展從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品,從物理到邏輯全面的檢測(cè)工作,提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點(diǎn)激光注入等安全檢測(cè)服務(wù),同時(shí)可開(kāi)展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,找出失效原因的失效分析檢測(cè)服務(wù),主要包括點(diǎn)針工作站(Probe Station)、反應(yīng)離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測(cè)系統(tǒng)(EMMI)、X-Ray檢測(cè),缺陷切割觀察系統(tǒng)(FIB系統(tǒng))等檢測(cè)試驗(yàn)。實(shí)現(xiàn)對(duì)智能產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估及分析,為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。
國(guó)家應(yīng)用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)檢驗(yàn)中心
集成電路產(chǎn)業(yè)促進(jìn)部
趙工
010-82825511-728
微信13488683602
zhaojh@bsw.net.cn
zhaojh@kw.beijing.gov.cn
北京市海淀區(qū)東北旺西路8號(hào)中關(guān)村軟件園3A樓
公司簡(jiǎn)介:
磁場(chǎng)效應(yīng)探針臺(tái) 高壓探針臺(tái) 半自動(dòng)探針臺(tái)(200 IC酸開(kāi)封機(jī) 開(kāi)短路測(cè)試機(jī) 超聲掃描檢測(cè)設(shè)備 光發(fā)射顯微鏡 OLYMPUS 切割研磨機(jī) 半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺(tái) ZEISS X光檢測(cè)設(shè)備 SEM RIE Probe 零配