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45MG單晶超聲波測厚儀OLYMPUS按鍵使用說明

價格
¥16,000.00

型號
45MG

品牌
奧林巴斯

所在地
奉賢縣

更新時間
2023-07-24 03:16:02

瀏覽次數(shù)


    45MG單晶超聲波測厚儀OLYMPUS按鍵使用說明



    影響性能和度的因素

    以下因素會影響儀器的性能和厚度測量的性。

    校準 上海玖橫儀器有限公司



    任何超聲測量的性都取決于校準測厚儀的精度。45MG 出廠時已配有多種探頭和應(yīng)用的標(biāo)準設(shè)置。在某些情況下,應(yīng)根據(jù)不同的測量情況,優(yōu)化這些設(shè)置。在任何情況下,一旦要更換被測材料或探頭,就須進行聲速和零位校準。建議使用厚度已知的試塊進行定期檢查,以確保測厚儀工作正常。

    測試工件的表面粗糙度

    在測試工件的正面和底面都平滑的條件下,能獲得*測量精度。如果接觸面很粗糙,則所能測到的*小厚度值會由于增厚的耦合層中出現(xiàn)聲反響而增大。此外,如果測試工件的正面和底面都很粗糙,則探頭可能會探測到多重具有微弱差別的聲  程,從而使回波失真,導(dǎo)致不準確的測量結(jié)果。

    耦合技術(shù)

    在模式 1 (接觸式探頭)的測量中,耦合層厚度屬于測量范圍的一部分,并由零位偏移的一部分補償。要獲得*精度,耦合技術(shù)一定要可靠穩(wěn)定。使用適當(dāng)?shù)驼承择詈蟿?,僅施用足夠獲得可靠讀數(shù)的耦合劑量,并施予探頭穩(wěn)定的壓力,就可獲得穩(wěn)定的測量讀數(shù)。實踐證明,適中到較強的力度可獲取穩(wěn)定一致的讀數(shù)。一般來說, 對于小直徑探頭,施予較輕的力度便可擠出多余的耦合劑,而大直徑探頭則需更大的力度達到相同的效果。在所有模式中,傾斜的探頭都會使回波失真,產(chǎn)生不正確的讀數(shù),如下所述。

    測試工件的曲率 上海玖橫儀器有限公司

    要獲得可靠的測量結(jié)果,探頭須與測試工件對直。在曲面上進行測量時,須將探頭置于工件的中心線處,并盡可能使探頭穩(wěn)定地貼附在表面上。在某些情況下,可用一個裝有彈簧的 V 型試塊支架使探頭保持對直的狀態(tài)。通常而言,當(dāng)曲率半徑降低時,探頭的尺寸也應(yīng)減小,而探頭的對直狀態(tài)則變得更為重要。對于曲率半徑極小的工件,須使用水浸式測量方法。在某些情況下,觀察波形顯示有助于保持探頭的*對直狀態(tài)。通過觀察波形顯示,操作人員可發(fā)現(xiàn)持握探頭的*方式。在曲面上,必須僅使用足夠獲取讀數(shù)的耦合劑量。多余的耦合劑會在探頭和被測工件之間形成片狀層,造成聲反響,從而產(chǎn)生錯誤信號,觸發(fā)錯誤讀數(shù)。

    錐度或偏心

    若測試工件的接觸表面和底面相互呈錐度或偏心,回波會由于聲程在波束寬度中的變化而失真。測量精度因此而降低。情況嚴重時,將無法進行測量。

    被測材料的聲學(xué)特性

    在某些工程材料中,可能會有多個條件限制超聲厚度測量的精度和范圍。

    l 聲散射: 上海玖橫儀器有限公司

    在諸如鑄造不銹鋼、鑄鐵、玻璃纖維及復(fù)合材料等材料中,聲能會從鑄件的單個微晶或從玻璃纖維或復(fù)合材料的異種材料交接處發(fā)散,造成聲束散射。任何材料中的孔隙也會產(chǎn)生同樣的效果。需要調(diào)節(jié)儀器的靈敏度,以防探測到這些錯誤的散射回波。但這種補償也會削弱儀器識別來自材料底面的正確回波的能力,從而限制了測量范圍。



    聲衰減或聲吸收: 上海玖橫儀器有限公司

    在很多有機材料中,諸如低密度塑料和橡膠中,若使用常規(guī)超聲波厚度測量的頻率,聲能的衰減速度會非???。這種衰減通常隨著溫度的升高而增加。因此對于這類材料,可測*厚度往往受到聲衰減的限制。

    l 聲速變化:上海玖橫儀器有限公司

    只有在材料聲速與儀器校準一致的前提下,超聲厚度測量才會準確。在某些材料中,聲速在不同的位置(一點到另一點)會發(fā)生很明顯的變化。這種情況會  出現(xiàn)在某些鑄鐵材料中,因為鑄鐵材料的晶粒結(jié)構(gòu)會因不同的冷卻速度發(fā)生變化,而這種發(fā)生變化的晶粒結(jié)構(gòu)使聲速產(chǎn)生各向異性現(xiàn)象。玻璃纖維由于樹脂

    / 纖維比率的變化會產(chǎn)生局部聲速變化。許多塑料和橡膠材料在受到溫度影響

    時,會急劇發(fā)生聲速變化,因此聲速校準一定要在與測量實際材料時的溫度相同的溫度下進行。

    相位顛倒或相位失真 上海玖橫儀器有限公司

    回波信號的相位或極性取決于不同材料界面處的相對聲阻抗(密度 X 聲速)。45MG 儀器基于通常情況進行計算:被測工件的背面介質(zhì)通常是空氣或液體,而空氣和液體的聲阻抗低于金屬、陶瓷或塑料。但是,在某些特殊情況下,如:金屬表面上覆蓋有玻璃或塑料層,或鋼表面上有銅覆蓋層,阻抗關(guān)系會被顛倒,因此回波便會出現(xiàn)相位顛倒的情況。在這類情況下,需要改變相關(guān)的回波檢測極性設(shè)置,以便保持測量的性 (參閱第 161 頁的 10.8.1 小節(jié))。一些更為復(fù)雜的情況會發(fā)生在各向異性或非勻質(zhì)材料中,如粗粒金屬鑄件或一些復(fù)合材料,由于材質(zhì)條件,會在聲束區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生多重聲程。在這種情況下,相位失真會生成一個無法清晰界定其極性的回波 (正極或負極)。因此,有必要使用參考標(biāo)準試塊仔細進行實驗,以確定測量結(jié)果的正確性。

    45MG單晶超聲波測厚儀OLYMPUS按鍵使用說明


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    45MG單晶超聲波測厚儀OLYMPUS按鍵使用說明

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