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臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation

價(jià)格
電議

型號(hào)
臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation

品牌
布魯克

所在地
暫無(wú)

更新時(shí)間
2023-06-02 23:19:03

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    臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀，用于c-Si太陽(yáng)能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。


    標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016


    可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度



    臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）



        易PID和抗PID的太陽(yáng)能電池重現(xiàn)性



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