德國TranSpec Lite 系列白光干涉光譜儀,用于有機膜厚測量,在車燈,薄膜,半導體等行業(yè)有眾多的應用實例應用白光干涉原理對車燈表面透光層膜厚(TCL,IPL及AFL)進行非接觸式、無損、高精度測量。
技術參數(shù): ? 尺寸 (H x W x D): ~ 150 x 195 x 265 mm, 重量: ~4.4 kg ? 自動轉換100/240V外部電源 ? FSMA 行業(yè)標準分叉光光纖連接器 ? 德國Carl Zeis的分光儀模塊,使用全息凹面衍射光柵 ? 512像素光電二極管,無冷卻要求 ? 工廠預置模塊,無移動部件 ? 波長范圍: 600-1020 nm ? 厚度測量范圍:約2um至120um ? 光譜分辨:2.4 nm ? 光譜像素分辨: 0.8 nm ? *波長精度: 小于 0.3 nm ? 溫度漂移: 小于0.005 nm / Kelvin ? 集成機械光閘,手動或自動切換 ? 美國Welch Allyn 7W微型鹵素燈 ? 配備FTM-Provis Lite膜厚測量軟件,可同時TCL和IPL雙層膜厚
? 配備FTM-Lite X膜厚測量軟件可,同時分析TCL、IPL和AFL三層膜厚
? 多線程 MDI-應用, 詳細的幫助菜單,彩色打印的用戶手冊 ? 通過特定的傅里葉快速轉換進行干涉波譜計算 ? 用于計算FFT峰位(膜厚結果)的高精度算法 ? 準確性+/- 0.005 um, 重復性 +/- 0.002 um( 標準WEG 測試) ? 測量期間能實時顯示干涉,FFT波譜和膜厚的趨勢 ? 考慮折射率和色散 (柯西色散定理) ? 可同時測量雙層或三層膜厚
技術特點 光學方法,非接觸、無損測量,安全無輻射。 快速膜厚分析,只需幾毫秒即可獲得測量結果
應用領域:
半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻膠ITO等)
觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)
汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)
醫(yī)學(聚對二甲苯涂層球囊/導尿管壁厚藥膜等)
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德國TranSpec Lite 系列白光干涉光譜儀,用于有機膜厚測量,在車燈,薄膜,半導體等行業(yè)有眾多的應用實例應用白光干涉原理對車燈表面透光層膜厚(TCL,IPL及AFL)進行非接觸式、無損、高精度測量。
技術參數(shù):
? 尺寸 (H x W x D): ~ 150 x 195 x 265 mm, 重量: ~4.4 kg
? 自動轉換100/240V外部電源
? FSMA 行業(yè)標準分叉光光纖連接器
? 德國Carl Zeis的分光儀模塊,使用全息凹面衍射光柵
? 512像素光電二極管,無冷卻要求
? 工廠預置模塊,無移動部件
? 波長范圍: 600-1020 nm
? 厚度測量范圍:約2um至120um
? 光譜分辨:2.4 nm
? 光譜像素分辨: 0.8 nm
? *波長精度: 小于 0.3 nm
? 溫度漂移: 小于0.005 nm / Kelvin
? 集成機械光閘,手動或自動切換
? 美國Welch Allyn 7W微型鹵素燈
? 配備FTM-Provis Lite膜厚測量軟件,可同時TCL和IPL雙層膜厚
? 配備FTM-Lite X膜厚測量軟件可,同時分析TCL、IPL和AFL三層膜厚
? 多線程 MDI-應用, 詳細的幫助菜單,彩色打印的用戶手冊
? 通過特定的傅里葉快速轉換進行干涉波譜計算
? 用于計算FFT峰位(膜厚結果)的高精度算法
? 準確性+/- 0.005 um, 重復性 +/- 0.002 um( 標準WEG 測試)
? 測量期間能實時顯示干涉,FFT波譜和膜厚的趨勢
? 考慮折射率和色散 (柯西色散定理)
? 可同時測量雙層或三層膜厚
技術特點
光學方法,非接觸、無損測量,安全無輻射。
快速膜厚分析,只需幾毫秒即可獲得測量結果
應用領域:
半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻膠ITO等)
觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)
汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)
醫(yī)學(聚對二甲苯涂層球囊/導尿管壁厚藥膜等)