ICP-OES MICS DV雙向觀測(cè)全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,是博維儀器公司基于多年光譜類儀器開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn),推出的一款全新一代的ICP-OES產(chǎn)品。利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩(wěn)固的恒溫二維分光系統(tǒng)、科研級(jí)制冷防溢出CCD檢測(cè)系統(tǒng),結(jié)合國(guó)內(nèi)*的光譜校正技術(shù),將ICP-OES MICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的乎想象,日常操作和維護(hù)非常簡(jiǎn)單,更適合國(guó)內(nèi)一線分析實(shí)驗(yàn)的操作要求,實(shí)現(xiàn)小型化(Miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化(Convenience)的光譜儀(Spectrometer)。
ICP-OES MICS DV (Inductively Coupled Plasma,ICP 雙向觀測(cè)全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀) ,是目前無(wú)機(jī)元素分析的主流產(chǎn)品,它具有光譜干擾小,穩(wěn)定性好、分析快速等優(yōu)點(diǎn),是無(wú)機(jī)元素分析領(lǐng)域*常用的手段??蓮V泛應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)、食品安全、地質(zhì)礦產(chǎn)、冶金、有色金屬、稀土、化工、臨床醫(yī)藥、石油制品、半導(dǎo)體、農(nóng)業(yè)研究等各個(gè)領(lǐng)域。用于測(cè)定不同物質(zhì)中的常量、微量、痕量元素含量,可用于樣品中元素的定性、半定量及定量分析,檢出限可達(dá)十億分級(jí)。
等離子火焰實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
具有實(shí)時(shí)全彩色攝像系統(tǒng),操作者在儀器的控制軟件中可以實(shí)時(shí)全彩色看到等離子體的運(yùn)行圖形,并觀察炬管、炬管中心管是否變臟需要清洗。其他推薦產(chǎn)品