博曼G系列產(chǎn)品概述：

G系列是博曼具的一款機型。該機型機構(gòu)緊湊，沒有可移動部件。與博曼其他系列不同，該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上，并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小，可手動調(diào)整樣品位置測量樣品，該系列主要應(yīng)用于珠寶和其他貴金屬行業(yè)的鍍層分析與應(yīng)用。

G系列標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個固定準(zhǔn)直器，一個固定焦距的相機，固態(tài)PIN探測器和質(zhì)量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣，該型號也可升級為包括多個準(zhǔn)直器，可變焦點相機和SDD探測器。

博曼G系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 樣品測試量相對較小

- 客戶或供應(yīng)商對于鍍層提出了新要求

- 主要分析珠寶或其他貴金屬

- 預(yù)留擺放空間小

- 預(yù)算有限

關(guān)于美國博曼：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有知識產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測技術(shù)和的軟件系統(tǒng)，可高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金（HEAs）。