布魯克Hysitron PI 95是TEM的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測(cè)試系統(tǒng)，在TEM上檢測(cè)時(shí)，直接觀察檢測(cè)過(guò)程，使用側(cè)面進(jìn)樣支架，不僅可以實(shí)現(xiàn)納米尺度材料的成像觀察，還可以同時(shí)進(jìn)行加熱和通電測(cè)試，并同步得到材料的力學(xué)數(shù)據(jù)，通過(guò)視頻接口可以將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷位移曲線）與相應(yīng)TEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步。

該系統(tǒng)為方便研究者瞬間得到特定參數(shù)，比如化學(xué)復(fù)合物的種類，或?qū)Σ牧弦呀?jīng)造成的影響，除成像外，選擇區(qū)域衍射可以檢測(cè)樣品的取向，原位力學(xué)檢測(cè)可以實(shí)時(shí)觀測(cè)和驗(yàn)證。

適用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不適用于UHR極靴）的PI 95可在納米尺度既可以輕松完成材料的電學(xué)測(cè)試，也可以同時(shí)進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)實(shí)驗(yàn)。后續(xù)可升級(jí)模塊有高溫臺(tái)、原位力電性能測(cè)試、納米劃痕等。